edx元素映射怎么分析？

測試能譜后，相應的軟件顯示元素的類型以及該元素對應的峰形。有時候還有很多不為人知的其他元素。這時候你要根據你要檢測的物質所含元素的成分來區分它們。

測試時分為面掃描和點掃描。面掃描對應的是SEM上顯示的一個面中元素的含量，點掃描對應的是點(實際上因為探頭會浮動，所以也會采集附近/周圍點的元素)。

收集時間的長短決定了峰的強度。一般為了數據可靠，采集時間比較長。

最后，EDX將以At%和wt%給出每種元素的數據，其中At%代表原子百分比，wt%代表質量百分比。

根據wt%除以各種元素的相對原子質量，可以計算出該物質的結構式。然而，EDX只是一種半定量的測試方法，結果不夠準確。為了獲得更精確的數值，可以使用ICP(含金屬物質)。

eds與edx測試原理有何不同？

EDX是熒光分析，EDS是能譜分析，后者不是X射線能譜儀。如果想準確量化，可以考慮化學分析，XPS或者AES。XPS和AES更適合表面內容。

EDX(或EDS)為什么不可以檢測H元素？

為什么可以EDX能譜分析儀分析氫、氦和其他元素

因為氫和氦只有一層電子，EDX需要激發內層的一個電子，外層電子組成內層時發射X射線來獲取數據，而HHe只有一層電子，沒有外層電子躍遷就沒有X射線。

eds和edx區別？

區別如下:

1.EDX是熒光分析，EDS是能譜分析，EDXRF是能量色散熒光X射線。

2、EDS能量色散普儀，根據能譜來看，主要器件是鋰硅半導體探測器，主要利用X射線量子的能量差來分析元素。

3.EDX是通過分析樣品發出的元素特征X射線的波長和強度來實現的，根據元素特征X射線波長的不同來確定樣品中所含的元素。通過比較不同元素的譜線強度，可以確定樣品中元素的含量。EDX通常與電子顯微鏡結合使用。可用于樣品的微區成分分析。